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対象試料表面だけではなく、断面試料を作製する事で様々な拡大観察が可能になります。特に塗装膜、メッキ膜、薄膜等の膜厚や膜質を観察する際に必要となります。又、表面の異変（キズ・腐食など）が試料内部のどこまでダメージがあるのか、どこから異変が始まっているかの考察が可能となります。その他様々な要望を頂いております。まずはお気軽にお声掛け頂ければ幸いです。
膜断面が高倍率で拡大観察及び膜厚計測が可能です。膜厚・膜質の現状把握や、最適な条件確立等のシーンで、有効な評価基準の一つになります。
透明な樹脂に埋めることで樹脂に埋まっている奥まで見ることができます。Auワイヤーが電極まで伸びている様子が見て取れます。
表面から見ると薄ら傷がある部分の断面を見てみると、下層塗膜施工後に傷をつけてしまったと思われる凹みが存在します。このような異常個所の原因究明にも有用です。
中身が見えない構造物の内部も断面で確認できます。
電子部品の断面を研磨・琢磨し、拡大観察しました。チップ断面像より出来映えを評価できます。
中空構造物の断面試料作製も可能です。
目視では１枚に見えるフィルムも、断面を拡大観察する事で、積層数や各層の厚みを計測する事が出来ます。
ハルセル試験後のメッキ断面の各膜厚違いが、ミクロンオーダーから、ナノオーダーまで拡大観察可能です。
電極部とデバイスとの接合箇所の状態確認できます（×200倍）。さらに拡大する事で電極トップの微小箇所の観察が可能です。（×2000倍）
Web会議での対応も可能です。お問い合わせください。
