超高分解能電界放出形
走査電子顕微鏡(FE-SEM)
超高分解能観察に適したコールドFE電子銃を搭載したセミインレンズタイプのFE-SEMで、ナノオーダーの観察が可能です。また、低加速での観察ができ、試料へのダメージも軽減できます。
情報化社会の発展に伴い、様々な品物に対する品質要求は高まる一方です。また、高機能化や小型化により取り扱う部品も小さくなり、品物の出来栄え確認に目視だけでは対応できません。そこで我々は様々なツールを用いて拡大観察することにより、状況を把握し、対処を行っております。当社ではお客様の目となるよう、様々な拡大観察・計測サービスを行っております。
※観察をご希望される対象物の大きさや箇所(例えば構造物内部や断面等)によって、観察に用いる機器や前処理が異なります。お気軽にご相談ください。
超高分解能観察に適したコールドFE電子銃を搭載したセミインレンズタイプのFE-SEMで、ナノオーダーの観察が可能です。また、低加速での観察ができ、試料へのダメージも軽減できます。
デジタルマイクロスコープより更に拡大し、対象物の形態を観察します。導電性の無い有機物、無機物でも、そのまま観察する事が出来ます。また、導電処理を行うことで、より鮮明に像を得ることが可能です。
目視でははっきり見えない小さな異物や、観察したい特定箇所の拡大観察、寸法計測にはデジタルマイクロスコープが有用です。走査電子顕微鏡では得られない色情報を取得できます。また、立体物や液中の浮遊物も観察できます。